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試料の表面観察や断面観察に使用。表面構造を観察しやすく、立体的な画像が得られます。
EDS(エネルギー分散型X線分光解析)は、『energy dispersive pectrometry』の略でSEMに検出器が付加されています。試料の観察領域からX線を検出し、構成する元素を特定します。 特定した元素の量(定量的)を知ることが数%まで測定できます。また、元素の分布像(Xマッピング像) が得られ、さらに元素の線分析(X線ラインスキャン分析)を得ることができます。
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