走査電子顕微鏡解析(SEM)

走査電子顕微鏡解析(SEM)

表面構造を観察し易く。また、特に高倍率での被写界深度 が深く対象を立体的な画像が得られます。試料の表面観察や断面観察に使用します。

お見積りをご希望のお客様

1. 名称、カテゴリー、サイズ、重量等、供試品についての情報
2. 評価・試験項目、規格（JISやJASOなど）など、ご希望の検査内容
3. 繰り返し回数／期間、又は、実施回数／期間
4. 付帯条件に関する情報（たとえば振動試験であれば、共振周波数など）
5. 評価、試験の結果納期

お問い合わせの際は、上記の項目を記載いただけますようお願いいたします。
そのほか、ご不明な点がございましたらお気軽にお問い合わせください。
迅速かつ的確なソリューションのご提供をお約束いたします。