X線解析

X線解析

X線解析 X線装置を使用し外観からでは観察出来ない試料内部を非破壊により観察できます。 マイクロフォーカスX線源を持ち焦点寸法が非常に小さいため、電子部品などの小型試料を 明確に捉えることが可能です。また、拡大・縮小だけでは無く、斜め・回転透視 の3次元的な 観察が可能なため、2次元のX線装置と比べ観察ポイントを見逃すことがありません。 多彩なソフトウエアが搭載されており簡易CT機能、観察動画の記録、多数検査を効率よく 行えるティーチング機能、定量的な解析が行える寸法計測・面積計測の機能が付いています 。

お見積りをご希望のお客様

1. 名称、カテゴリー、サイズ、重量等、供試品についての情報
2. 評価・試験項目、規格（JISやJASOなど）など、ご希望の検査内容
3. 繰り返し回数／期間、又は、実施回数／期間
4. 付帯条件に関する情報（たとえば振動試験であれば、共振周波数など）
5. 評価、試験の結果納期

お問い合わせの際は、上記の項目を記載いただけますようお願いいたします。
そのほか、ご不明な点がございましたらお気軽にお問い合わせください。
迅速かつ的確なソリューションのご提供をお約束いたします。